武汉上材科技有限公司
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高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度**测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域。可以实现4000μm 量程范围内的测量。
测量结果存储 | 0.010s | 4000(±2000) | 0.1 |
数值显示 | 0.100s | 400(±200) | 0.01 |
模拟显示 | 0.100s | 温度系数 | 0.005%/°C |
输出 | 0.020s | 操作温度 | 0°C to 45°C |
电脑,打印机 | RS232,9 阵,针插座(与 PC 兼容) |
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- 控制输出 | 3 个开关信号输出 24V,100mA |
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- 控制输入 | 3 个开关信号输入 24V, 10mA |
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极限误差 |
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- 10 x 模拟显示 | 2.5% |
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- 数字显示 | 0.3% (*小. 0.2 μm) |
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耗电量 | 10VA |
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防护等级 | IP54, 在有传导灰尘下 IP43 |
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外壳尺寸 | (H x W x D) 约 205 mm x 160 mm x 165 mm | ||
重量 | 约 2.1 kg / 4.6 lbs |
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