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X射线荧光测量仪FT110A

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更新时间：2024-01-31 16:18:12浏览次数：27次

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产品简介

FT110AX射线荧光镀层厚度测量仪性能：1.即放即测！2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！3.可无标样测量！4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！FT110AX射线荧光镀层厚度测量仪特点：1.通过自动定位功能提高操作性测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性

详细介绍

FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪性能：

1.即放即测！

2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！

3.可无标样测量！

4.通过样品整体图像更方便选择测量位置！

FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪特点：

1.通过自动定位功能提高操作性

测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。

2.微区膜厚测量精度提高

通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。

3.多达5层的多镀层测量

使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。

4.广域观察系统（选配）

可从更大250×200mm的样品整体图像测量位置。

5.对应大型印刷线路板（选配）

可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。

6.低价位

与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。

FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪规格：

型号	FT110A
测量元素	原子序号Ti（22）～Bi（83）
X射线源	空冷式小型X射线管管电压：50（可变更）kV 管电流：10～1000µA
检测器	比例计数管
准直器	○型： 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ　他2種
样品观察	CCD摄像头
对焦	激光对焦（自动）
滤波器	一次滤波器（自动切换）
样品区域	[固定]535×530 mm [电动] 260×210 mm (移动量X:250 mm, Y:200 mm)
测量软件	薄膜FP法（更大2层、10种元素）、检量线法
安全功能	样品室门联锁、样品冲突防止功能、仪器诊断功能