无锡德华仕环境科技有限公司
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热流仪输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验,可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快
热流仪输出气流罩将被测试品罩住,形成一个较密闭空间的测试腔,试验机输出的高温或低温气流,使被测试品表面温度发生剧烈变化,从而完成相应的高低温冲击试验,可针对众多元器件中的某一单个IC或其它元件,将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件,与传统冷热冲击试验箱相比,温变变化冲击速率更快。
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