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电子设备温度测试箱|电子产品高低温测试箱设备介绍:电子设备温度测试箱|电子产品高低温测试箱技术参数:内部尺寸:(W×H×D)=400mm×500mm×400mm(此尺寸为标准,还可定制非标)温度范围:D:-70℃~+150℃
电子设备温度测试箱|电子产品高低温测试箱
设备介绍:
电子设备温度测试箱|电子产品高低温测试箱技术参数:
内部尺寸:(W×H×D)= 400mm×500mm×400mm(此尺寸为标准,还可定制非标)温度范围:D:-70℃ ~ +150℃;C:-40℃ ~ +150℃;B:-20℃ ~ +150℃;A:0℃ ~ +150℃;解析精度:±0.01℃;温度波动度:±0.5℃;温度偏差:≤±2.0℃;极限低温:-70℃;极限高温:150℃;升温速率:平均3℃/min(非线性空载);降温速率:平均1℃/min(非线性空载);湿度范围:20%~98%R.H;湿度波动度:±2.5%R.H.;湿度偏差:≤±3%(≥75%);≤±5%(﹤75%)
电子设备温度测试箱|电子产品高低温测试箱结构设计:箱门:单片门,单窗口,左开。平面嵌入式把手,后钮:SUS #304。内箱材质: 镜面不锈钢板(SUS #304 1.0mm厚);外箱材质:优质钢板静电喷涂烤漆处理( 1.2mm厚) 或选择不锈钢材质;同温层结构设计:有效避免箱体顶部凝结;保温层:保温绝缘层(硬质Polyurethane发泡+玻璃棉,100MM厚);双道隔热气密迫紧,有效隔绝箱体内外热交换;观测窗口:三层真空玻璃,便于观察试品使用。(尺寸:270x360x40mm)照明设计:高亮度窗口照明灯,便于观察试品;测试孔:机体左侧ψ50mm 附不锈钢孔盖1只,硅胶塞头1只;机台滑轮;方便移动(调整摆放位置)与强力螺栓(固定位置)配套使用。有特殊要求可以联系业务部门:。
电子设备温度测试箱|电子产品高低温测试箱满足标准:
GB/T10589-2008低温试验箱技术条件;GB/T10586-2006湿热试验箱技术条件GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件;GB/T2423.1-2008低温试验Aa,Ab
GB/TT2423.2-2008试验B:高温试验方法;GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定湿热试验 Ca;MIL-STD810D方法502.2;GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3;GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验。
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主营产品: 冷热冲击试验机,可程式恒温恒湿试验箱,高低温冲击试验箱,氙灯耐候试验箱,紫外线耐老化试验箱,多功能氙灯老化试验机,高低温恒温试验箱,步入式恒温恒湿测试房,大型步入室烧机房,高低温交变试验箱,高温烤箱,砂尘试验箱,淋雨试验机,模拟运输振动试验台,盐水喷雾试验箱,跌落试验机,电磁水平振动试验台,伺服控全自动插拔力试验机,纸带耐磨试验机,气动式按键寿命试验机,拉力试验机,蒸汽老化试验机
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