东莞市爱佩试验设备有限公司
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一、芯片冷热冲击测试箱产品名称三箱式冷热冲击试验机（风冷式）二、产品型号3AP-CJ-80A三、控制仪表爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器全触摸屏控制器
一、芯片冷热冲击测试箱产品名称 三箱式冷热冲击试验机（风冷式） 二、产品型号 3AP-CJ-80A 三、控制仪表 爱佩自主研发的7英寸超大触摸AP-950可程序温度控制器全触摸屏控制器，触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求. 四、设备用途 广泛用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在*短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。 五、三箱特点 1、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品静止于测试区。采用之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。 2、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。 六、容积、尺寸和重量 6.1. 内容积 80L 6.2. 内箱尺寸 400*500*400mm (W* H *D) 6.3.外型尺寸(约) 1550*1850*1600mm (W* H *D) 6.4. 重 量 约900㎏ 七、芯片冷热冲击测试箱性能指标 7.1. 测试环境条件 机器周围环境温度维持在+25~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。 7.2. 满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test ·GB/T2423.2-2008 高温试验方法Test method of high temperature test ·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge ·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock ·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock ·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock ·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等 7.3.测试室温度范围 -40℃～+150 ℃ (风冷式) 7.3.1.低温冲击范围 -10℃～-40 ℃ 7.3.2.高温冲击范围 60℃～150 ℃ 7.4. 高温室 7.4.1. 预热温度范围 RT～+165℃ 7.4.2. 升温时间 +50℃→+165 ≤30min 注：升温时间为高温室单独运转时的性能 7.5. 低温室 7.5.1. 预冷温度范围 RT～-55℃ 7.5.2. 降温时间 +20℃ → -55℃≤约60min 注：降温时间为低温室单独运转时的性能 7.6. 试验室（试样区） 7.6.1. 试验方式 采用之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。 7.6.2. 温度波动度 ±0.5℃ 7.6.3. 温度偏差 ±2.0℃ 7.6.5. 温度恢复时间 3~5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：5秒以内） 7.7.冲击暴露时间 ≥30min
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