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电子设备高低温测试设备冷热循环试验箱设备介绍:电子设备高低温测试设备冷热循环试验箱根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于试验方式和设备的内部结构不同
电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱
设备介绍:
电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱 根据试验需求及测试标准分为三箱式和两箱式,区别在于试验方式和设备的内部结构不同。三箱式分为蓄冷箱,蓄热箱和试验箱,产品在测试时是放置在试验箱内。两箱式分为高温箱和低温箱,是通过电机带动吊篮升降来实现高低温的切换,要测试的通信、通讯产品放在吊篮里,是随吊篮一起移动的.更多可联系.
电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱主要参数:
1.内箱尺寸: 350*400*350mm (宽,高,深)
外箱尺寸: 1560*2000*1500 (宽,高,深)
2.高低温度冲击范围:-40℃~+150℃(测试箱温度范围)
3.预热温度范围:常温~+165℃;(储存箱温度范围)
4.预冷温度范围:常温~-65℃;约60min(储存箱温度范围)
(注:降温时间为低温室单独运转时的性能)
5.试验方式:2温区或3温区可选择;
6.温度波动度:±0.5℃
7.温度偏差:±2.0℃
8.温度冲击恢复时间:≤5min
9.温度冲击移动复时间:≤10S
10.试样限制:本实验设备禁止易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验或储存;腐蚀性物质试样的试验或储存;生物试样的试验或储存;强电磁发射源试样的试验或储存。
电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱测控系统:
1.控制器:日本OYO9226S触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块
2.运行方式:程序方式
﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度
高温恒温区预热温度
低温恒温区预热温度
低温恒温区除霜温度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制
3.设定方式:中文菜单,触摸屏方式输入。
4.程序容量:100组程式,每个程序3步;每个程序可设1000次循环,循环设定9999cycles;
5.设定范围:预热预冷箱区
原理:电子设备高低温测试设备 冷热循环试验箱主要用于测试复合材料或材料结构在瞬间下经温及极低温的连续环境下冲击所能忍受的程度,得以在最短时间内检测样品因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。是LED、金属、光电、塑料、照明、橡胶、通讯、电子等成品或半成品材料行业的温冲测试设备。
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主营产品: 冷热冲击试验机,可程式恒温恒湿试验箱,高低温冲击试验箱,氙灯耐候试验箱,紫外线耐老化试验箱,多功能氙灯老化试验机,高低温恒温试验箱,步入式恒温恒湿测试房,大型步入室烧机房,高低温交变试验箱,高温烤箱,砂尘试验箱,淋雨试验机,模拟运输振动试验台,盐水喷雾试验箱,跌落试验机,电磁水平振动试验台,伺服控全自动插拔力试验机,纸带耐磨试验机,气动式按键寿命试验机,拉力试验机,蒸汽老化试验机
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