磁导率它的物理意义是表示磁介质中磁感应强度与磁场强度之比。分为磁导率和相对磁导率，是表征磁介质导磁性能的物理量。常用符号μ表示，μ为介质的磁导率，或称磁导率。磁导率μ等于磁介质中磁感应强度B与磁场强度H之比，即μ=B/H
通常使用的是磁介质的相对磁导率μr，其定义为磁导率μ与真空磁导率μ0之比，即μr=μ/μ0 ，相对磁导率μr与磁化率χ的关系是：μr=1+χ
磁导率μ，相对磁导率μr和磁化率xm都是描述磁介质磁性的物理量。
对于顺磁质μr>1；对于抗磁质μr<1，但两者的μr都与1相差无几 。在大多数情况下,导体的相对磁导率等于1.在铁磁质中，B与 H 的关系是非线性的磁滞回线，μr不是常量，与H有关，其数值远大于1。
例如，如果空气(非磁性材料)的磁导率是1，则铁氧体的磁导率为10，000，即当比较时，以通过磁性材料的磁通密度是10,000倍。
涉及磁导率的公式：
磁场的能量密度=B^2/2μ
在国际单位制（SI）中，相对磁导率μr是无量纲的纯数，磁导率μ的单位是亨利/米（H/m）。
常用的真空磁导率μ0公式
初始磁导率μi：是指基本磁化曲线当H→0时的磁导率
较大磁导率μm：在基本磁化曲线初始段以后，随着H的增大，斜率μ=B/H逐渐增大，到某一磁场强度下(Hm)，磁密度达到较大值（Bm） ，即 饱和磁导率μS：基本磁化曲线饱和段的磁导率，μs值一般很小，深度饱和时，
μs=μo。
关于弱磁材料相对磁导率的测量，根据行业标准（IEC 60404-15:2016，ASTM 342，GB/T35690—2017）目前行业内比较常用的有磁通扰动法, 螺线管法，磁矩法，磁平衡法以及古依法磁天平法等,其中磁通扰动法，螺线管法的测量范围一般在1.001~1.999之间，而其中磁平衡法是通过比较试样与标准插入件的相对磁导率从而判断试样的相对磁导率的范围，,其测量范围较广为1.009~6.0. 磁平衡法用于测量小型试样或元件的相对磁导率更有优势；它还适用于开展材料或者完整组件的现场测量或在组件的安装位置处直接进行测量。该方法通过判断磁体是被位于仪器上端的一组标准插入件吸引还是被位于其下端的被测试样吸引来比较标准件和被测试样相对磁导率的大小。
LINTRONICS 引进了德国斯蒂芬.梅尔/力斯特（STEFAN MAYER/LIST-MAGNETIK）和福尔斯特（FOERSTER）FERROMASTER/PLUS ， MAGNETOSCOP 1.069/1.070系列手持式数显磁导率仪（磁通扰动法）以及美国赛文（SEVERN ENGINEERING)公司的磁平衡式Lo Mu Permeability Indicator/Ferrite Indicator（GO，NO-GO）系列磁导率指标器等为各科研院校，物理实验室，研究所以及在航空航天，核电，勘探，交通，钢铁，冶金制造业，特种材料研发等应用发挥了重要的作用。
STEFAN MAYER 磁导率仪/计 FERROMASTER技术参数 
STEFAN MAYER磁导率仪/计FERROMASTER USER MANUAL
STEFAN MAYER磁导率仪/计FERROMASTER PLUS技术参数 （EN） （CN）
STEFAN MAYER磁导率仪/计FERROMASTER PLUS USER MANUAL
LIST-MAGNETIK磁导率仪/计FERROMASTER/PLUS技术参数 PDF(EN) （EN） （CN）
FOERSTER磁导率仪/计MAGNETOSCOP 1.069/1.070技术参数 (1.069) (1.070)
SEVERN ENGINEERING低Ur值磁导率指标器技术参数
SEVERN ENGINEERING铁素/磁体指标器技术参数
STEFAN MAYER/LIST-MAGNETIK磁导率测试仪使用注意事项
SEVERN ENGINEERING低Ur值磁导率指标器使用注意事项
智能手机材料，基板结构以及部件分选测试 案例列举： 5G天线，智能手机材料，基板结构以及部件分选测试 案例列举：
案例1. 手机不锈钢基板材料测试
案例2. 手机摄像头材料测试
案例3. 手机结构部件材料测试
