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偏光熔点仪 XPN-203E

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海长方光学仪器有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/9/19 10:01:10
  • 访问次数297
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上海长方光学仪器有限公司 致力于*的精密光学制造技术和计算机图象处理技术的研发,从事发展光学、精密机械、计算机相结合的(光、机、电一体化)光学仪器开发和销售。 公司已建立了优秀的技术、经营和管理人才队伍,运转高效顺畅,具备了较强的市场开拓能力、光机电领域技术与产品的成套开发制造能力。企业严格参照ISO9001:2000质量保证体系标准管理整体运作。开发、制造、销售、服务全过程质量稳定可靠。可根据不同客户的需要,提供光学零件设计、计算机图像处理软件开发、产品选型等技术服务。 公司主要产品:测量显微镜、读数显微镜、工具显微镜、光学投影仪、测量投影仪、影像测量仪、生物显微镜、体视显微镜、金相显微镜、视频显微镜、检测显微镜、偏光显微镜偏光熔点测定仪、生物显微镜加热台、光切法显微镜、干涉显微镜、立式光学计、透镜中 心仪、中心偏测量仪、阿贝折射仪、金相抛光机、平行光管、数字式激光平面干涉仪、显微硬度计、1'和15'的光学比较测角仪等各种光学仪器、以及计算机图像处理软件和显微镜测量软件、光学仪器配件。产品广泛应用于农牧、轻工、机械、电子、冶金、医疗、化工等行业;卫生、教育、国防等部门及各大专院校 、科研单位。 公司秉承"讲诚信、求人才、抓管理、重技术"的经营理念,以"为顾客创造价值、为员工创造机会、为社会创造效益"为宗旨,致力于国家光电产业的发展,同时愿意与光学技术领域中的有相当专长的人士和机构进行各种形式的合作。
电子显微镜
偏光熔点仪XPN-203E一、用途XPN-203系列偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业的专业实验仪器
偏光熔点仪 XPN-203E 产品信息
偏光熔点仪 XPN-203E
一、用途
XPN-203 系列偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化纤、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校高分子等专业的专业实验仪器。偏光熔点测定仪可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光熔点测定仪采用微电脑检测,有自动P、I、D调节,及模糊手动调节功能,偏光熔点测定仪通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示
偏光热台 偏光熔点测定仪
电脑型偏光熔点仪 XPN-203E 数码偏光熔点仪 XPN-203Z
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准确、清晰、稳定,对温度控制可设定
程序,设有“上、下”限自动报警装置,并可随时检查设定的温度数据,是新一代熔点测温、控温装置。显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件。偏光显微镜热台具有可扩展性,可以接计算机和数码相机,对图片进行编辑、保存和打印。偏光熔点测定仪是一组具有较完备功能的新型产品。
二、系统简介
偏光熔点测定仪系统是将精密的光学显微镜技术、*的光电转换技术、的计算机图像处理技术地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像,并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。
三、技术参数:
1.目镜:
类 别 放大倍数 视场(mm)
网格目镜 10X φ18
十字目镜 10X φ18
分划目镜 10X φ18

2.物镜:
类 别 放大倍数 数值孔径(NA) 工作距离(mm) 盖玻片厚度(mm)
物 镜 4X 0.10 7.80 -
10X 0.25 4.70 -
25X 0.40 1.75 0.17
40X 0.65 0.72 0.17
63X 0.85 0.18 0.17

3.放大倍数:40X-630X 系统放大倍数:40X-2600X。
4.聚光镜数值孔径:NA1.2/0.22 摇出式消色差聚光镜,中心可调
5.起偏镜:振动方向360°可调,带锁紧装置,可移动光路
6.检偏镜:可移出光路,旋转范围90°内置勃氏镜,中心、焦距可调
7.补偿器:λ片(φ18mm,一级红,光程差551nm) λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ级)
8.调焦系统:带限位和调节松紧装置的同轴粗微调,格值为0.002mm
9.电光源:6V/20W卤素灯(亮度可调)
四、热台:
1.显微精密控温仪
在 20X 物镜下工作温度可达到300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定,30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数。
2.显微加热平台
可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1
起始温度室温
工作区加热使用面积至少1X1cm
工作区温度梯度不超过 ± 0.1oC
透光区域 2mm以上,可调
显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
热台可以随载物台移动
熔点测定 温度超过100度时,25X的物镜工作距离太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的 20X、40X 物镜
五、系统组成
电脑型偏光熔点仪(XPN-203E):1、偏光显微镜 2、热台 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集) 5、计算机
数码相机型偏光熔点仪(XPN-203Z):1、偏光显微镜 2、热台 3、数码相机系统
数码显微成像系统 电脑显微成像系统
六、选购件
1、高像素成像系统 2.偏光显微镜分析软件
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