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x荧光膜厚测试仪_bowman
【简单介绍】
【详细说明】
x荧光膜厚测试仪_bowman1、无损分析;
2、从13号元素到92号元素的快速元素分析、金属镀层厚度检测;
3、测镀液中zui低含量50g/L的主盐,测定范围Ti22-U92;
4、检测灵敏度0.01%到100%;镀层0.01um到35um;
5、可全天候工作,坚固耐用,非实验室人员亦可操作;
6、测量时间短,每个测量只需10-60秒;
7、20倍彩色CCD系统用于样品图像观察;
8、大窗口正比计数器,提高测量稳定性;
9、仪器结构简单,可靠;
10、FP基本算法;
11、灵活的应用分析软件;
x荧光膜厚测试仪_bowman利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器,这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。
无论是汽车部件、卫浴器具,还是半导体支架、接插端子、金银首饰,美国bowman公司都一一有理想的仪器去进行测量。美国bowman提供的都是高效率、低成本的测量仪器,它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析,简单易用,维护方便,是节省生产成本的好帮手。
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